Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Antonova I$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
|
1. |
Fedorov V. E. Transition Metal Trichalcogenides as Novel Layered Nano Species [Електронний ресурс] / V. E. Fedorov, S. B. Artemkina, E. D. Grayfer, Yu. V. Mironov, A. I. Romanenko, I. V. Antonova, M. V. Medvedev // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 1. - С. 01NTF34-01NTF34. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_1_36
| 2. |
Misiuk A. Hydrogen gettering in annealed oxygen-implanted silicon [Електронний ресурс] / A. Misiuk, A. Barcz, A. Ulyashin, I. V. Antonova, M. Prujszczyk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 2. - С. 161-165. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_2_12 Hydrogen gettering by buried layers formed in oxygen-implanted silicon (Si:O prepared by <$E roman O sub 2 sup +> implantation at the energy 200 keV and doses 10<^>14 and 10<^>17 cm<^>-2) was investigated after annealing of Si:O at temperatures up to 1570 K, including also processing under enhanced hydrostatic pressure, up to 1,2 GPa. Depending on processing conditions, buried layers containing SiO2-x clusters and/or precipitates were formed. To produce hydrogen-rich Si:O,H structures, Si:O samples were subsequently treated in RF hydrogen plasma. As determined using secondary ion mass spectrometry, hydrogen was accumulated in sub-surface region as well as within implantation-disturbed areas. It has been found that hydrogen was still present in Si:O,H structures formed by oxygen implantation with the dose <$E D~=~10 sup 7~roman cm sup -2> even after post-implantation annealing up to 873 K. It is concluded that hydrogen accumulation within the disturbed areas in Si:O as well as in SOI structures can be used for recognition of defects.
| 3. |
Antonova I. V. Prepropriate analysis of time series by methods of fractal analysis and phase trajectories [Електронний ресурс] / I. V. Antonova, N. A. Chikina // Вісник Національного технічного університету "ХПІ". Серія : Математичне моделювання в техніці та технологіях. - 2018. - № 3. - С. 3-8. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/vcpimm_2018_3_3
|
|
|